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北京中航时代仪器设备有限公司
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 电学性能检测仪器 >> 介电常数介质损耗测试仪 >> ZJD-E高温介电常数介质损耗测试系统
 
产品编号:
1121542116
产品名称:
ZJD-E高温介电常数介质损耗测试系统
规  格:
ZJD-E/RT-600℃
产品备注:
中航时代
产品类别:
电学性能检测仪器
 
   产 品 说 明
1.设计原理:
ZJD-E/RT-600℃高温介电常数介质损耗测试系统,是基于ASTM D150标准试验方法,采用三电极法设计。为消除连接线阻抗及之间相互耦合对测试的影响,仪器接口与夹具样品电极采用四端同轴法连接设计。
2.测量功能:
系统用于高温环境下材料、器件的介电性能测试与分析,可测试以下参数随温度(T)、频率 (f)、电平 (V)、偏压 (Vi) 的变化规律:电容 (C)、电感 (L)、电阻 (R)、电抗(X)、阻抗 (Z)、相位角 (Ø)、电导 (G)、电纳 (B)、导纳 (Y)、损耗 (D)、品质因素 (Q) 等参数, 同时计算获得反应材料介电性能的复介电常数 (εr*) 和介电损耗 (D) 参数。也可以根据用户需求,定制开发居里温度点 Tc、机电耦合系数 Kp、机械品质因素 Qm 及磁导率μ等参数的测试与分析。
3.测试应用:
系统集高温环境、温度控制、样品安装于一体;体积小、控温精度高、样品安装方便;提供高温、低温、真空、气氛等多种测试环境;适合于测试涂覆有电极的固体样品、无电极的固体样品以及液体、粉末样品。广泛应用于陶瓷、薄膜、半导体、食品、生物、制药及其它新型材料的测试与分析。
4.系统组成:
系统由LCR表/阻抗分析仪、高温测试环境、自动液氮泵、高温介电夹具、高温介电测试系统软件及电脑组成。
5.技术参数
1.温度范围:室温~600℃;
2.测温精度:0.1℃;
3.控温精度:全温区范围内±0.3℃;
4.超调控制:全温区范围内0.5℃;
5.变温速度:0~30℃/min;
6.加热方式:电阻丝加热,全温区智能PID温度控制;
7.气氛环境:密封样品环境,外接气源循环系统,实现气氛环境;
8.控温模式:程序控制常温、变温、恒温、升降温及组合;
9.夹具升降:程序和手动控制升降装置,可更换测试夹具;
10.通信接口:RS-485;
11.LCR接口:4个SMA母头;
12.校准频率:20Hz~50MHz;
13.电极结构:两平行板测试电极+环形保护电极,三电极结构;
14.电极材料:高纯铂金,高温不氧化,不形变;
15.电极引线:高纯铂金,带同轴屏蔽层,消除电磁干扰;
16.电极绝缘:995氧化铝陶瓷,高温不氧化,不形变;
17.上电极:直径2mm球头电极,用于涂覆有电极样品;
18.下电极:直径24mm圆片电极,用于放置样品; 
19.保护电极:下电极带环形电极,消除寄生、边界电容;
20.上电极行程:24mm行程,便于样品安装;
21.上电极压力:2mm行程,调节上电极与样品电极压力;
22.热电偶:安装于样品平台,准确测量与控制样品温度;
23.设计标准:ASTM D150、D2149-97、GB/T1409-2006标准;
24.涂电极样品:直径1~22mm,厚度小于8mm;
25.基础管理:包括设备、人员、样品等信息;
26.项目管理:包括介电/阻抗的频率谱、温度谱、时间谱;
27.自动测试:自动完成测试,实时显示数据及图形;
28.数据存储:数据库保存数据,输出TXT、XLS、BMP等格式文件;
29.数据分析:查询与分析实验数据,输出TXT、XLS、BMP等格式文件;
30.软件适配:也可适配Keysight/WayneKerr/Tonghui/Hioki等品牌LCR表;
31.扩展功能:扩展温度范围,适配多套夹具;
32.外形尺寸:W370mmH510mmD400mm;
33.设备净重:28KG。
点击数:118  录入时间:2011/11/2 【打印此页】 【关闭